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GB/T 19403.1-2003 半導體器件集成電路第11部分;第1篇：半導體集成電路內部目檢 (不包括混合電路)

作者：百檢網時間：2021-07-14

標準號：GB/T 19403.1-2003
中文標準名稱：半導體器件集成電路第11部分;第1篇：半導體集成電路內部目檢 (不包括混合電路)
英文標準名稱：Semiconductor Devices Integrated Circuits Part11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
標準類型：L56
發布日期：2003/11/24 12:00:00
實施日期：2004/8/1 12:00:00
中國標準分類號：L56
國際標準分類號：31.200
適用范圍：進行內部目檢的目的是檢驗集成電路的內部材料、結構和工藝，驗證與適用的規范要求的一致性。通常應在封帽或密封之前對器件進行****內部目檢。以發現可能導致器件在正常使用時失效的內部缺陷并剔除相應器件。本試驗也可按抽樣方式在封帽之前使用，以確定承制方對半導體器件質量控制和操作程序的有效性。

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內部目檢 GB/T 12750-2006 半導體器件集成電路第11部分:半導體集成電路分規范(不包括混合電路)

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