標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 5170.18-2005
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Inspection methods for basic parameters of environmental testing equipments for electric and electronic products--Composite temperature/humidity cyclic testing equipments
標(biāo)準(zhǔn)類型：K04
發(fā)布日期：2005/9/19 12:00:00
實(shí)施日期：2006/6/1 12:00:00
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：K04
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：19.080
引用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.34-2005;GB/T 5170.1-1995;GB/T 5170.2-1996;GB/T 6999
適用范圍：1.1 本部分規(guī)定了溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時(shí)的檢定項(xiàng)目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測(cè)量點(diǎn)數(shù)量及位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。1.2 本部分適用于GB/T 2423.34-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備在同一實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)進(jìn)行時(shí)（以下簡稱一箱法），符合本部分的所有規(guī)定； 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備在兩個(gè)獨(dú)立試驗(yàn)箱進(jìn)行時(shí)（以下簡稱二箱法），濕熱試驗(yàn)箱應(yīng)符合本部分所有規(guī)定；低溫試驗(yàn)箱應(yīng)符合GB/T 5170.2-1996《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備》的規(guī)定。 本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。