GB/T 14031-1992 半導體集成電路模擬鎖相環測試方法的基本原理
作者：百檢網 時間：2021-07-14
中文標準名稱：半導體集成電路模擬鎖相環測試方法的基本原理
英文標準名稱：General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits
標準類型：L55
發布日期：1992/12/17 12:00:00
實施日期：1993/8/1 12:00:00
中國標準分類號：L55
國際標準分類號：31.200
適用范圍： 本標準規定了半導體集成電路模擬鎖相環（以下簡稱器件或模擬鎖相環）電參數測試方法的基本原理。
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