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DIN EN 60749-6-2003 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第6部分:高溫儲存

作者：百檢網時間：2021-07-14

標準號：DIN EN 60749-6-2003
中文標準名稱：半導體器件.機械和氣候試驗方法.第6部分:高溫儲存
英文標準名稱：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2002); German version EN 60749-6:2003
標準類型：L40
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：2003/4/1 12:00:00
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
適用范圍：The purpose of this part of DIN EN 60749 is to test and determine the effect on all semiconductor electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied. This test is considered non-destructive but should preferably be used for device qualification.

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