DIN EN 60749-9-2003 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第9部分:標記耐久性
作者：百檢網 時間：2021-07-14
中文標準名稱：半導體器件.機械和氣候試驗方法.第9部分:標記耐久性
英文標準名稱：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2002); German version EN 60749-9:2002
標準類型：L40
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：2003/4/1 12:00:00
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
適用范圍：The purpose of this part of DIN EN 60749 is to test and verify that the markings on semiconductor devices will not become illegible when subject to solvents or cleaning solutions commonly used during the removal of solder flux residue from the printed circuit board assembly process.
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