IEC 60749-16-2003 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第16部分:粒子沖擊噪聲探測(PIND)
作者：百檢網 時間：2021-07-14
中文標準名稱：半導體器件.機械和氣候試驗方法.第16部分:粒子沖擊噪聲探測(PIND)
英文標準名稱：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
標準類型：L40
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
適用范圍：Defines a test aiming at detecting the presence of loose particles inside a cavity device such as, for example, chips of ceramic, pieces of bonding wire or solder balls (prills).
相關標準
《IEC60747-5-5:2007+A1:20137.4.3.2.1》半導體器件–分立器件–第5-5部分:光電子器件–光電耦合器
《IEC60747-5-5:2007+A1:20137.4.3.2.1》半導體器件–分立器件–第5-5部分:光電子器件–光電耦合器
《SJ/T11141-2017Cl.6》發光二極管(LED)顯示屏通用規范
《IEC60747-5-5:2007+A1:20137.4.3.2.1》半導體器件–分立器件–第5-5部分:光電子器件–光電耦合器
《SJ/T11141-2017Cl.5》發光二極管(LED)顯示屏通用規范
《IEC60747-5-5:2007+A1:20137.4.3.2.2》半導體器件–分立器件–第5-5部分:光電子器件–光電耦合器
《IEC60747-5-5:2007+A1:20137.4.3.2.1》半導體器件–分立器件–第5-5部分:光電子器件–光電耦合器
《SJ/T11281-2017Cl.5》發光二極管(LED)顯示屏測試方法
《IEC60747-5-5:2007+A1:20137.4.3.2.1》半導體器件–分立器件–第5-5部分:光電子器件–光電耦合器
百檢能給您帶來哪些改變？
1、檢測行業全覆蓋，滿足不同的檢測；
2、實驗室全覆蓋，就近分配本地化檢測；
3、工程師一對一服務，讓檢測更精準；
4、免費初檢，初檢不收取檢測費用；
5、自助下單 快遞免費上門取樣；
6、周期短，費用低，服務周到；
7、擁有CMA、CNAS、CAL等權威資質；
8、檢測報告權威有效、中國通用；
客戶案例展示
相關商品
相關資訊
最新資訊
版權與免責聲明
①本網注名來源于“互聯網”的所有作品，版權歸原作者或者來源機構所有,如果有涉及作品內容、版權等問題，請在作品發表之日起一個月內與本網聯系，聯系郵箱service@baijiantest.com，否則視為默認百檢網有權進行轉載。
②本網注名來源于“百檢網”的所有作品，版權歸百檢網所有，未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用。想要轉載本網作品，請聯系:service@baijiantest.com。已獲本網授權的作品，應在授權范圍內使用，并注明"來源：百檢網"。違者本網將追究相關法律責任。
③本網所載作品僅代表作者獨立觀點，不代表百檢立場，用戶需作出獨立判斷，如有異議或投訴，請聯系service@baijiantest.com
關于我們 萬檢（上海）信息科技有限公司（簡稱：百檢網）是國內知名B2B檢測電商服務平臺，專注于為第三方 檢測機構以及中小微企業及個人用戶搭建互聯網+檢測電商服務平臺。平臺匯集了國內外權威檢測機構（CNAS/CMA）,其中不乏國家級、省級重點實驗室以及國際知名檢測機構，為廣大用戶提供一站式檢測服務。
客服熱線 400-101-7153 專屬服務：156 0190 2607 企業郵箱：Service@Baijiantest.Com 聯系地址：上海市徐匯區宜山路700號
微信公眾號
官方微博
百檢集團
滬ICP備19010749號經營許可證編號:滬B2-20190666Copyright@2019www.szlhsb.comAll Rights Reserved
- 微信客服
- 電話咨詢
- QQ客服
返回頂部
400-101-7153
15201733840