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DIN IEC/TS 61967-3-2015 集成電路. 電磁輻射的測量. 第3部分: 輻射發射的測量. 表面掃描法(IEC/TS 61967-3-2014)

作者：百檢網時間：2021-07-14

標準號：DIN IEC/TS 61967-3-2015
中文標準名稱：集成電路. 電磁輻射的測量. 第3部分: 輻射發射的測量. 表面掃描法(IEC/TS 61967-3-2014)
英文標準名稱：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 3: Measurement of radiated emissions - Surface scan method (IEC/TS 61967-3:2014)
標準類型：L56
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
中國標準分類號：L56
國際標準分類號：31.200
引用標準：DIN EN 61967-1-2003;IEC 60050-55-1970;IEC 60050-101-1998;IEC 60050-102-2007;IEC 60050-103-2009;IEC 60050-111-1996;IEC 60050-111 AMD 1-2005;IEC 60050-112-2010;IEC 60050-113-2011;IEC 60050-113 Corrigendum 1-2011;IEC 60050-113 AMD 1-2014;IEC 60050-114-2014;I

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