ISO/TR 14999-2-2005 光學和光子學.光學元件和光學系統的干涉儀測量.第2部分:測量和評價技術
作者：百檢網 時間：2021-07-15
中文標準名稱：光學和光子學.光學元件和光學系統的干涉儀測量.第2部分:測量和評價技術
英文標準名稱：Optics and photonics - Interferometric measurement of optical elements and optical systems - Part 2: Measurement and evaluation techniques
標準類型：N30
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
中國標準分類號：N30
國際標準分類號：37.020
適用范圍：This part of ISO 14999 gives fundamental explanations to interferometric measurement objects, describeshardware aspects of interferometers and evaluation methods, and gives recommendations for test reports andcalibration certificates.
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