BS ISO 18118-2005 表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質材料定量分析用實驗室測定相對敏感性系數的使用指南
作者：百檢網 時間：2021-07-15
中文標準名稱：表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質材料定量分析用實驗室測定相對敏感性系數的使用指南
英文標準名稱：Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
標準類型：G04
發布日期：2005/3/31 12:00:00
實施日期：2005/3/31 12:00:00
中國標準分類號：G04
國際標準分類號：71.040.40
適用范圍：This International Standard gives guidance on the measurement and use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials by Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy.
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