標準號:IEC 60191-6-16-2007
中文標準名稱:半導體器件的機械標準化.第6-16部分:半導體試驗術語表和BGA、LGA、FBGA和FLGA用老化插座
英文標準名稱:Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-16: Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA
標準類型:L40
發布日期:1999/12/31 12:00:00
實施日期:1999/12/31 12:00:00
中國標準分類號:L40
國際標準分類號:01.100.25;31.080.01;31.240
引用標準:IEC 60191-1-1966;IEC 60191-2-1966;IEC 60191-3-1999;IEC 60191-4-1999
適用范圍:This part of IEC 60191 gives a glossary of semiconductor sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA. This standard intends to establish definitions and unification of terminology relating to tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA.
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