KS C IEC 60749-1-2006 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第1部分:總則
作者：百檢網 時間：2021-07-15
中文標準名稱：半導體器件.機械和氣候試驗方法.第1部分:總則
英文標準名稱：Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 1：General
標準類型：L40
發(fā)布日期：2006/11/30 12:00:00
實施日期：2006/11/30 12:00:00
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
適用范圍：? ??? ??? ??(?? ?? ? ?? ??)? ?? ????, IEC 60749 ??
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