SJ 20954-2006 集成電路鎖定試驗
作者：百檢網 時間：2021-07-15
中文標準名稱：集成電路鎖定試驗
英文標準名稱：Integrated circuits latch-up test
標準類型：L55
發布日期：2006/8/7 12:00:00
實施日期：2006/12/30 12:00:00
中國標準分類號：L55
國際標準分類號：31.200
引用標準：GB/T 17574
適用范圍： 本標準規定了集成電路（IC）的電流鎖定和過壓鎖定的試驗方法。 本標準的目的是建立測試IC鎖定試驗的方法，用來判斷集成電路鎖定特性并確定鎖定的失效判據。鎖定敏感性對于決定產品可靠性、*小無故障率（NTF）和過電應力失效（EOS）非常重要。 本試驗方法適用于NMOS、CMOS、雙級以及各種使用此類工藝的產品。當器件被置于該試驗方法下出現鎖定時，表明器件電性能失效，與器件特殊結構無關。
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