GB/T 14032-1992 半導體集成電路數字鎖相環測試方法的基本原理 現行
作者：百檢網 時間：2021-07-15
中文標準名稱：半導體集成電路數字鎖相環測試方法的基本原理
英文標準名稱：General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits
標準狀態：現行
發布日期：1992-12-17
實施日期：1993-08-01
中國標準分類號：L55
國際標準分類號：31.200
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會
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