ASTM F1893-1998(2003) 測量半導體器件電離劑量率熔蝕的指南
作者：百檢網 時間：2021-07-16
中文標準名稱：測量半導體器件電離劑量率熔蝕的指南
英文標準名稱：Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Burnout of Semiconductor Devices
標準類型：L40
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01 (Semi-conductor devices in general)
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