ASTM F391-1996 通過測量穩(wěn)態(tài)硅表面光致電壓確定非本征半導體中少數(shù)載流子擴散長度的標準試驗方法
作者：百檢網(wǎng) 时间：2021-07-16
中文標準名稱：通過測量穩(wěn)態(tài)硅表面光致電壓確定非本征半導體中少數(shù)載流子擴散長度的標準試驗方法
英文標準名稱：Standard Test Methods for Minority Carrier Diffusion Length in Extrinsic Semiconductors by Measurement of Steady-State Surface Photovoltage
標準類型：H81
發(fā)布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
中國標準分類號：H81
國際標準分類號：29.045 (Semiconducting materials)
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