SJ/T 10435-1993 半導體電阻應變計總規范(可供認證用)
作者：百檢網 時間：2021-07-16
中文標準名稱：半導體電阻應變計總規范(可供認證用)
英文標準名稱：General Specification for the semiconductor resistance strain gage
標準類型：L40
發布日期：1993/12/17 12:00:00
實施日期：1994/6/1 12:00:00
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
適用范圍：本標準規定了半導體電阻應變計的基本技術要求，質量評定程序和試驗方法。 本標準適用于以半導體壓阻效應為基本原理而制造的半導體電阻應變計，包括體型應變計、擴散型半橋應變計、擴散型全橋(如硅膜片、硅粱、硅柱等)應變計。
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