標(biāo)準(zhǔn)號：SIS SS 675-1989
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：表面粗糙度．通過電子齒形記錄設(shè)備測量表面粗糙度
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Surface roughness — Measurement of surface roughness by means of electrical profile recording instruments
發(fā)布日期：1989/10/18 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
適用范圍：Denna standard ger riktlinjer f?r m?tning av ytj?mnhet med elektriska profilregistrerande instrument.Standarden inneh?ller valda delar ur de internationella standarderna ISO 1880:1979 och ISO 3274:1975.Vid best?mning av ytj?mnhet med elektriska instrument omvandlas profilregistreringen till en elektrisk signal.Signalen f?r passera ett filter med en funktion som motsvarar inplacering av referensl?ngd i ett profildiagram. Den av filtret modifierade signalen utv?rderas sedan med hj?lp av integrerande kretsar som genomf?r ber?kningar av R%, Rz, Ry etc analoga med definitionerna i SS-ISO 4287-1. I ISO 3274 presenteras detta m?tf?rfarande som om profilen i instrumenten existerade i sin ursprungliga l?geskoordinatform i st?llet f?r verklighetens amplitud- tidsform. Samma f?rfarande har valts i denna standard.Vidare ben?mns enligt praxis ytawikelsernas utstr?ckningar i vertikalled (y-led) amplituder och i horisontalled (r-led) v?gl?ngder.