標(biāo)準(zhǔn)號:20192068-T-339
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱:半導(dǎo)體集成電路 驅(qū)動(dòng)器測試方法
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱:Semiconductor integrated circuits measuring method of driver circuit
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):正在審查
標(biāo)準(zhǔn)類型:國標(biāo)計(jì)劃
發(fā)布日期:1999/12/31 12:00:00
實(shí)施日期:1999/12/31 12:00:00
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號:中國電子科技集團(tuán)公司第二十四研究所
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號:31.200
歸口單位:全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
主管部門:工業(yè)和信息化部(電子)
起草單位:中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院
起草人:霍玉柱
相近標(biāo)準(zhǔn): ?半導(dǎo)體集成電路 驅(qū)動(dòng)器測試方法;20192064-T-339 ?半導(dǎo)體集成電路 霍爾電路測試方法; ?半導(dǎo)體集成電路 霍爾電
標(biāo)準(zhǔn)制修訂:制訂
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