20201546-T-339 半導體器件 機械與氣候試驗方法 第44部分：半導體器件的中子輻照單粒子效應（SEE）試驗方法 正在征求意見
作者：百檢網 時間：2021-07-16
中文標準名稱：半導體器件 機械與氣候試驗方法 第44部分：半導體器件的中子輻照單粒子效應（SEE）試驗方法
英文標準名稱：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
標準狀態：正在征求意見
標準類型：國標計劃
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
國際標準分類號：31.080.01
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會
主管部門：工業和信息化部（電子）
起草單位：工業和信息化部電子第五研究所等
相近標準： ?半導體器件 機械與氣候試驗方法 第44部分：半導體器件的中子輻照單粒子效應（SEE）試驗方法; ?半導體器件-機械和氣候試驗
標準制修訂：制訂
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