GB/T 2423.27-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗
作者：百檢網 時間：2021-07-19
中文標準名稱：電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗
英文標準名稱：Environmental testing for electric and electronic products.Part 2:Test Methods Test Z/AMD:Combined sequential cold,low air pressure and damp heat test
標準類型：K04
發布日期：2005/8/26 12:00:00
實施日期：2006/4/1 12:00:00
中國標準分類號：K04
國際標準分類號：19.040
適用范圍： 本部分提供了由低溫、低氣壓和濕熱組成的標準環境試驗程序。**低溫和低氣壓結合在一起，其次升溫，然后與濕熱條件結合在一起。本試驗應用了試驗A和試驗M。雖然未完全按照試驗D引入濕度，但用“Z/AMD”來表示本試驗*恰當和*具提示性。 本試驗用于飛行器所使用的元器件和設備，特別是在非加熱和非增壓部位的元器件和設備。
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