GB/T 4937.4-2012 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第4部分：強加速穩態濕熱試驗（HAST）
作者：百檢網 時間：2021-07-19
中文標準名稱：半導體器件.機械和氣候試驗方法.第4部分：強加速穩態濕熱試驗（HAST）
英文標準名稱：Semiconductor devices.Mechanical and climatic test methods.Part 4:Damp heat,steady state,highly accelerated stress test(HAST)
標準類型：L40
發布日期：2012/11/5 12:00:00
實施日期：2013/2/15 12:00:00
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
適用范圍：GB/T 4937的本部分過電流強加速穩態濕熱試驗（HAST）方法，用于評價非氣密封裝半導體器件在潮濕的環境下的可靠性。
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