標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 17626.29-2006
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Electromagnetic compatibility Testing and measurement techniques Voltage dips， short interruptions and voltage variations on d.c.input power port immunity tests
標(biāo)準(zhǔn)類型：L06
發(fā)布日期：2006/12/19 12:00:00
實(shí)施日期：2007/9/1 12:00:00
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：L06
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：33.100.20
引用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 4365;GB/T 17626.11
適用范圍： GB/T 17626的本部分規(guī)定了在電氣、電子設(shè)備的直流電源輸入端口對(duì)電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)方法。 本部分適用于由外部直流網(wǎng)絡(luò)供電的設(shè)備的低電壓直流電源端口。 本部分的目的是建立一種評(píng)價(jià)直流電氣、電子設(shè)備在經(jīng)受電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化時(shí)的抗擾度的通用準(zhǔn)則。 本部分規(guī)定了： ——試驗(yàn)等級(jí)的范圍； ——試驗(yàn)發(fā)生器； ——試驗(yàn)布置； ——試驗(yàn)程序。 本部分的試驗(yàn)適用于電氣和電子設(shè)備或系統(tǒng)，如果EUT（受試設(shè)備）的額定功率大于第6章要求的試驗(yàn)發(fā)生器的容量，也同樣適用于模塊或子系統(tǒng)。 直流電源輸入端口的紋波不包括在本部分中，它們包括在GB/T 17626.17-2005中。 本部分不適用于特殊的裝置或系統(tǒng)。其主要目的是對(duì)有關(guān)的專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提供通用的和基礎(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)。這些標(biāo)委員（或用戶和設(shè)備制造商）仍有責(zé)任選擇適合其設(shè)備的試驗(yàn)和嚴(yán)酷度等級(jí)。