GB/T 5201-2012 帶電粒子半導體探測器測量方法
作者：百檢網 時間：2021-07-19
中文標準名稱：帶電粒子半導體探測器測量方法
英文標準名稱：Test procedures for semiconductor charged particle detectors
標準類型：F88
發布日期：2012/6/29 12:00:00
實施日期：2012/11/1 12:00:00
中國標準分類號：F88
國際標準分類號：27.120
引用標準：GB/T 4960.6-2008;GB/T 10263-2006;GB/T 13178-2008
適用范圍：本標準規定了帶電粒子半導體探測器的電特性和核輻射性能的測量方法以及某些特殊環境的試驗方法。本標準適用于帶電粒子部分耗盡層的半導體探測器。全耗盡型半導體探測器的測量可參照本標準執行。
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