GB/T 4589.1-2006 半導體器件 第10部分:分立器件和集成電路總規范
作者：百檢網 時間：2021-07-19
中文標準名稱：半導體器件 第10部分:分立器件和集成電路總規范
英文標準名稱：Semiconductor devices. Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits
標準類型：L40
發布日期：2006/10/10 12:00:00
實施日期：2007/2/1 12:00:00
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
適用范圍： 本規范構成國際電工委員會電子元器件質量評定體系（IECQ）的一部分。 本規范是半導體器件（分立器件和集成電路，包括多片集成電路，但不包括混合電路）的總規范。 本規范規定了在IECQ體系內采用的質量評定的總程序，并給出了下述方面的總原則： ——電特性測試方法； ——氣候和機械試驗； ——耐久性試驗。
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