BS EN IEC 60749-12-2018 半導體器件.機械和氣候試驗方法.振動,可變頻率
作者：百檢網 時間：2021-07-19
中文標準名稱：半導體器件.機械和氣候試驗方法.振動,可變頻率
英文標準名稱：Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Vibration, variable frequency
標準類型：L40
發布日期：2018/4/18 12:00:00
實施日期：2018/4/18 12:00:00
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
引用標準：MIL-STD-883J-2007;IEC 60068-2-6;EN 60068-2-6;JESD22-B103
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