DIN ISO 15632-2015 微光束分析.帶半導體探測器能量發散X射線分光儀的儀器規范(ISO 15632-2012)
作者：百檢網 時間：2021-07-19
中文標準名稱：微光束分析.帶半導體探測器能量發散X射線分光儀的儀器規范(ISO 15632-2012)
英文標準名稱：Microbeam analysis - Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis (ISO 15632:2012)
標準類型：N53
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
中國標準分類號：N53
國際標準分類號：71.040.99
引用標準：DIN EN ISO/IEC 17025-2005;DIN ISO 18115-1;DIN ISO 22309-2015;ANSI/IEEE 759-1984;ASTM E 1508-2012;IEC 60759-1983;ISO/IEC 17025-2005;ISO 18115-1-2013;ISO 22309-2011;ISO 23833-2013
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