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NF C96-261-2-2011 集成電路.電磁抗擾性測定.第2部分:抗輻射干擾性測量.TEM輻射室和寬頻帶TEM輻射室法

作者：百檢網(wǎng) 時間：2021-07-19

標準號：NF C96-261-2-2011
中文標準名稱：集成電路.電磁抗擾性測定.第2部分:抗輻射干擾性測量.TEM輻射室和寬頻帶TEM輻射室法
英文標準名稱：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2 : measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method.
標準類型：L56
發(fā)布日期：2011/11/1 12:00:00
實施日期：2011/11/12 12:00:00
中國標準分類號：L56
國際標準分類號：31.200;33.100.20

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