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IEC 60749-40-2011 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第40部分:使用應變計的板級跌落試驗方法

作者：百檢網(wǎng) 時間：2021-07-19

標準號：IEC 60749-40-2011
中文標準名稱：半導體器件.機械和氣候試驗方法.第40部分:使用應變計的板級跌落試驗方法
英文標準名稱：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge
標準類型：L40
發(fā)布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01

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