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20182263-T-339 元器件位移損傷試驗方法正在審查

作者：百檢網時間：2021-07-19

標準號：20182263-T-339
中文標準名稱：元器件位移損傷試驗方法
英文標準名稱：Displayment damage testing method of semiconductor devices
標準狀態：正在審查
標準類型：國標計劃
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
中國標準分類號：中國工程物理研究院核物理與化學研究所
國際標準分類號：31.200
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會
主管部門：工業和信息化部（電子）
起草單位：中國空間技術研究院
起草人：于慶奎
相近標準： ?元器件位移損傷試驗方法;JB/T 7574-2013 ?機械產品及元器件濕熱環境大氣暴露試驗方法和導則;JB/T 7575-
標準制修訂：制訂

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