GB/T 32651-2016 采用高質量分辨率輝光放電質譜法測量太陽能級硅中痕量元素的測試方法 現行
作者：百檢網 時間：2021-07-19
中文標準名稱：采用高質量分辨率輝光放電質譜法測量太陽能級硅中痕量元素的測試方法
英文標準名稱：Test method for measuring trace elements in photovoltaic-grade silicon by high-mass resolution glow discharge mass spectrometry
標準狀態：現行
標準類型：國家標準
發布日期：2016/4/25 12:00:00
實施日期：2016/11/1 12:00:00
中國標準分類號：江蘇中能硅業科技發展有限公司
國際標準分類號：29.045
歸口單位：全國半導體設備和材料標準化技術委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
起草單位：國家太陽能光伏產品質量監督檢驗中心（無錫市產品質量監督檢驗中心）
起草人：魯文鋒
相近標準：20120266-T-469 ?采用高質量分辨率輝光放電質譜法測量太陽能級硅中痕量元素的測試方法;GB/T 33236-2016
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