CNS 5538-1988 單件半導體裝置之環(huán)境檢驗法及耐久性檢驗法-小信號用二極體連續(xù)動作試驗 W
作者：百檢網 時間：2021-07-20
中文標準名稱：單件半導體裝置之環(huán)境檢驗法及耐久性檢驗法-小信號用二*體連續(xù)動作試驗
英文標準名稱：Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Continuous Operation Test of Small Signal Diodes)
標準狀態(tài)：W
標準類型：國際標準
發(fā)布日期：1988-09-14
有效日期：2017-02-18
國際標準分類號：19.040%19.080%31.080.01
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