NF C96-022-1999 W
作者：百檢網 時間：2021-07-20
英文標準名稱：Semicoductor devices - Mechanical and climatic test methods
標準狀態：W
標準類型：國際標準
發布日期：1999-12-20
有效日期：2003-11-05
國際標準分類號：31.080.01
被以下標準代替：NF EN 60749-3-2002%NF C96-022-3-2002%NF EN 60749-2-2002%C96-022-2NF EN 60749-4-200212 C96-022-4-2002%NF EN 60749-6-2002%NF C96-022-6-2002%NF EN 60749-7-2002%NF C96-022-7-2002%NF EN 60749-9-2002%NF C96-022-9-2002%NF EN 60749-10-2002%NF C96-022-10-2002%NF E
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