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DIN EN 60749-38-2008 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第38部分:帶存儲器的半導體器件用軟錯誤試驗法

作者：百檢網時間：2021-07-20

標準號：DIN EN 60749-38-2008
中文標準名稱：半導體器件.機械和氣候試驗方法.第38部分:帶存儲器的半導體器件用軟錯誤試驗法
英文標準名稱：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (IEC 60749-38:2008); German version EN 60749-38:2008
標準類型：L40
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01

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