KS C IEC 60749-7-2004 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第7部分:其他殘余氣體的分析和內部含水量的測量
作者：百檢網 時間：2021-07-20
中文標準名稱：半導體器件.機械和氣候試驗方法.第7部分:其他殘余氣體的分析和內部含水量的測量
英文標準名稱：Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 7：Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
標準類型：K46
發布日期：2004/11/29 12:00:00
實施日期：2004/11/29 12:00:00
中國標準分類號：K46
國際標準分類號：31.080.00
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