CNS5545-1988 單件半導體裝置之環(huán)境檢驗法及耐久性檢驗法-電晶體高溫逆向偏壓試驗
作者：百檢網 時間：2021-07-21
中文標準名稱：單件半導體裝置之環(huán)境檢驗法及耐久性檢驗法-電晶體高溫逆向偏壓試驗
英文標準名稱：EnvironmentalTestingMethodsandEnduranceTestingMethodsforDiscrateSemiconductorDevicesReverseBiasTestofTransistorUnderHighTemperature)
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：19.040 ? 19.080 ? 31.080.01
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