DINEN62047-12-2012 半導體器件微電機器件第12部分：用微電機系統結構諧振進行薄膜材料的彎曲疲勞試驗方法
作者：百檢網 時間：2021-07-21
中文標準名稱：半導體器件微電機器件第12部分：用微電機系統結構諧振進行薄膜材料的彎曲疲勞試驗方法
英文標準名稱：Semiconductordevices-Micro-electromechanicaldevices-Part12:BendingfatiguetestingmethodofthinfilmmaterialsusingresonantvibrationofMEMSstructures(IEC62047-12:2011);GermanversionEN62047-12:2011
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01 ? 31.220.01
相關標準
《GB/T 6040-2019》紅外光譜分析方法通則 GB/T 6040-2019
《GB/T 31838.2-2019》固體絕緣材料 介電和電阻特性 第2部分：電阻特性(DC方法) 體積電阻和體積電阻率 GB/T 31838.2-2019
《SJ/T 11394-2009》半導體發光二極管測試方法 SJ/T 11394-2009
《SJ/T 10601-1994》揚聲器可靠性要求及試驗方法 SJ/T 10601-1994
《SJ/T 10601-1994》揚聲器可靠性要求及試驗方法 SJ/T 10601-1994 4.2
《GB/T 12060.7-2013》聲系統設備 第7部分：頭戴耳機和耳機測量方法 GB/T 12060.7-2013
《GB/T 6040-2019》紅外光譜分析方法通則 GB/T 6040-2019
《GB/T14028-2018》半導體集成電路 模擬開關測試方法 GB/T14028-2018 5.1
《SJ/T 10805-2018》半導體集成電路 電壓比較器測試方法 SJ/T 10805-2018 5.16
百檢能給您帶來哪些改變？
1、檢測行業全覆蓋，滿足不同的檢測；
2、實驗室全覆蓋，就近分配本地化檢測；
3、工程師一對一服務，讓檢測更精準；
4、免費初檢，初檢不收取檢測費用；
5、自助下單 快遞免費上門取樣；
6、周期短，費用低，服務周到；
7、擁有CMA、CNAS、CAL等權威資質；
8、檢測報告權威有效、中國通用；
客戶案例展示
相關資訊
最新資訊
.png)
版權與免責聲明
①本網注名來源于“互聯網”的所有作品，版權歸原作者或者來源機構所有,如果有涉及作品內容、版權等問題，請在作品發表之日起一個月內與本網聯系，聯系郵箱service@baijiantest.com，否則視為默認百檢網有權進行轉載。
②本網注名來源于“百檢網”的所有作品，版權歸百檢網所有，未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用。想要轉載本網作品，請聯系:service@baijiantest.com。已獲本網授權的作品，應在授權范圍內使用，并注明"來源：百檢網"。違者本網將追究相關法律責任。
③本網所載作品僅代表作者獨立觀點，不代表百檢立場，用戶需作出獨立判斷，如有異議或投訴，請聯系service@baijiantest.com
關于我們 萬檢（上海）信息科技有限公司（簡稱：百檢網）是國內知名B2B檢測電商服務平臺，專注于為第三方 檢測機構以及中小微企業及個人用戶搭建互聯網+檢測電商服務平臺。平臺匯集了國內外權威檢測機構（CNAS/CMA）,其中不乏國家級、省級重點實驗室以及國際知名檢測機構，為廣大用戶提供一站式檢測服務。
客服熱線 400-101-7153 專屬服務：156 0190 2607 企業郵箱：Service@Baijiantest.Com 聯系地址：上海市徐匯區宜山路700號
微信公眾號
官方微博
百檢集團
滬ICP備19010749號經營許可證編號:滬B2-20190666Copyright@2019www.szlhsb.comAll Rights Reserved
- 微信客服
- 電話咨詢
- QQ客服
返回頂部
400-101-7153
15201733840