DINEN60749-29-2012 半導體器件機械和氣候試驗方法第29部分：鎖定試驗
作者：百檢網 時間：2021-07-21
中文標準名稱：半導體器件機械和氣候試驗方法第29部分：鎖定試驗
英文標準名稱：Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part29:Latch-uptest(IEC60749-29:2011);GermanversionEN60749-29:2011
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
部分代替標準：DINEN60749-29-2004
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