DINEN60749-3-2018 半導體器件機械和氣候試驗方法第3部分：外觀檢查
作者：百檢網 時間：2021-07-21
中文標準名稱：半導體器件機械和氣候試驗方法第3部分：外觀檢查
英文標準名稱：Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part3:Externalvisualexamination(IEC60749-3:2017);GermanversionEN60749-3:2017
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
部分代替標準：DINEN60749-3-2003
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