DINEN60749-4-2017 半導體器件機械和氣候試驗方法第4部分：穩態濕熱強加速應力試驗(HAST)
作者：百檢網 時間：2021-07-21
中文標準名稱：半導體器件機械和氣候試驗方法第4部分：穩態濕熱強加速應力試驗(HAST)
英文標準名稱：Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part4:Dampheat,steadystate,highlyacceleratedstresstest(HAST)(IEC60749-4:2017);GermanversionEN60749-4:2017
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
部分代替標準：DINEN60749-4-2003
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