DINEN60749-42-2015 半導體器件機械和氣候試驗方法第42部分：存儲的溫度和濕度
作者：百檢網 時間：2021-07-21
中文標準名稱：半導體器件機械和氣候試驗方法第42部分：存儲的溫度和濕度
英文標準名稱：Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part42:Temperatureandhumiditystorage(IEC60749-42:2014);GermanversionEN60749-42:2014
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
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