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IEC60749-26-2006(已作廢) 半導體器件機械和氣候試驗方法第26部分：靜電放電（ESD）靈敏度試驗人體模型（HBM）

作者：百檢網時間：2021-07-23

標準號：IEC60749-26-2006(已作廢)
中文標準名稱：半導體器件機械和氣候試驗方法第26部分：靜電放電（ESD）靈敏度試驗人體模型（HBM）
英文標準名稱：Semiconductordevices?Mechanicalandclimatictestmethods?Part26:Electrostaticdischarge(ESD)sensitivitytesting?Humanbodymodel(HBM)Dispositifs?semiconducteurs?Méthodesd'essaismécaniquesetclimatiques?Partie26:Essaidesensibilit?aux
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
部分代替標準：IEC60749-26-2003

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