IEC60749-37-2008 半導體器件機械和氣候試驗方法第37部分：使用加速計的板水平墜落試驗法
作者：百檢網 時間：2021-07-23
中文標準名稱：半導體器件機械和氣候試驗方法第37部分：使用加速計的板水平墜落試驗法
英文標準名稱：Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part37:Boardleveldroptestmethodusinganaccelerometer(Edition1.0)
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
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