20193135-T-339 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第7部分：內(nèi)部濕氣測量和其他殘余氣體分析 正在征求意見
作者：百檢網(wǎng) 時間：2021-07-29
中文標準名稱：半導體器件 機械和氣候試驗方法 第7部分：內(nèi)部濕氣測量和其他殘余氣體分析
英文標準名稱：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
標準狀態(tài)：正在征求意見
標準類型：國標計劃
發(fā)布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
國際標準分類號：31.080.01
歸口單位：全國半導體器件標準化技術(shù)委員會
主管部門：工業(yè)和信息化部（電子）
起草單位：中國電子技術(shù)標準化研究院
相近標準： ?半導體器件 機械和氣候試驗方法 第7部分：內(nèi)部濕氣測量和其他殘余氣體分析;GB/T 4937-1995 ?半導體器件機械
標準制修訂：制訂
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