GB/T 35007-2018 半導體集成電路 低電壓差分信號電路測試方法 現行
作者：百檢網 時間：2021-07-29
中文標準名稱：半導體集成電路 低電壓差分信號電路測試方法
英文標準名稱：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
標準狀態：現行
標準類型：國家標準
發布日期：2018/3/15 12:00:00
實施日期：2018/8/1 12:00:00
中國標準分類號：工業和信息化部電子工業標準化研究院
國際標準分類號：31.200
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會
主管部門：工業和信息化部（電子）
起草單位：成都振芯科技股份有限公司
起草人：陳雁
相近標準： ?半導體集成電路 低電壓差分信號電路測試方法;20154229-T-339 ?半導體集成電路 低電壓差分信號電路測試方法;20
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