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20051273-T-339 半導體器件機械和氣候試驗方法第4部分：強加速穩態濕熱試驗（HAST）已發布

作者：百檢網時間：2021-07-29

標準號：20051273-T-339
中文標準名稱：半導體器件機械和氣候試驗方法第4部分：強加速穩態濕熱試驗（HAST）
英文標準名稱：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
標準狀態：已發布
標準類型：國標計劃
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
中國標準分類號：崔波
國際標準分類號：31.080.01
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會
主管部門：工業和信息化部（電子）
起草單位：中國電子科技集團公司第十三研究所
起草人：李麗霞
相近標準：GB/T 4937.4-2012 ?半導體器件機械和氣候試驗方法第4部分：強加速穩態濕熱試驗（HAST）;GB/T 49
標準制修訂：制訂

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