GB/T 20724-2006 薄晶體厚度的會聚束電子衍射測定方法
作者：百檢網 時間：2021-07-29
中文標準名稱：薄晶體厚度的會聚束電子衍射測定方法
英文標準名稱：Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
標準類型：N53
發布日期：2006/12/25 12:00:00
實施日期：2007/8/1 12:00:00
中國標準分類號：N53
國際標準分類號：71.040.99
引用標準：GB/T 18907-2002
適用范圍： 本標準規定了用透射電子顯微鏡測定薄晶體試樣厚度的會聚束電子衍射方法。本方法適用于測定線度為10
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