GB/T 27788-2011 微束分析.掃描電鏡.圖像放大倍率校準導則
作者：百檢網 時間：2021-07-29
中文標準名稱：微束分析.掃描電鏡.圖像放大倍率校準導則
英文標準名稱：Microbeam analysis.Scanning electron microscopy.Guidelines for calibrating image magnification
標準類型：N32
發布日期：2011/12/30 12:00:00
實施日期：2012/8/1 12:00:00
中國標準分類號：N32
國際標準分類號：37.020
引用標準：GB/T 6379.1-2004;ISO Guide 34-1996;ISO Guide 35-1989;ISO/IEC 17025-1999;JIS Q0030-1997
適用范圍：本標準規定了使用適當的參考物質對掃描電鏡（SEM）圖像的放大倍率進行校準的方法。本標準限于對由于參考物質上線距大小的范圍所決定的放大倍率進行校準。本標準不適用于專用測長型掃描電鏡。
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