GB/Z 21738-2008 一維納米材料的基本結構.高分辨透射電子顯微鏡檢測方法
作者：百檢網 時間：2021-07-29
中文標準名稱：一維納米材料的基本結構.高分辨透射電子顯微鏡檢測方法
英文標準名稱：Fundamental structures of one dimensional nano-materials.High resolution transmission electron microscopy characterization
標準類型：G04;N30
發布日期：2008/5/8 12:00:00
實施日期：2008/12/1 12:00:00
中國標準分類號：G04;N30
國際標準分類號：17.180.01
引用標準：GB/T 19619
適用范圍：本指導性技術文件規定了采用高分辨透射電子顯微鏡檢測納米材料中一維或準一維納米材料的原理，術語和定義，儀器和設備，樣品制備，測量程序，結果表示以及試驗報告等。本指導性技術文件適用于測量一維或準一維納米材料的基本結構（形貌、排列情況、大小線度的分布、晶化情況、生長取向關系），元素組分，截面及界面原子排布等。
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