標(biāo)準(zhǔn)號(hào):DIN EN 62228-2-2017
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱:集成電路.收發(fā)器EMC評(píng)估.第2部分:LIN收發(fā)器(IEC 62228-2-2016);德文版本EN 62228-2-2017
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱:Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers - Part 2: LIN transceivers (IEC 62228-2:2016); German version EN 62228-2:2017
標(biāo)準(zhǔn)類型:L56
發(fā)布日期:1999/12/31 12:00:00
實(shí)施日期:2017/9/1 12:00:00
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào):L56
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào):31.200;33.100.20
引用標(biāo)準(zhǔn):DIN EN 61967-1-2003;DIN EN 61967-4-2006;DIN EN 62132-1-2016;DIN EN 62132-4-2006;DIN EN 62215-3-2014;IEC 61967-1-2002;IEC 61967-4-2002;IEC 62132-1-2015;IEC 62132-4-2006;IEC 62215-3-2013;IEC 62228-2-2016;ISO 7637-2-2011;ISO 10605-2008;ISO 17987-6-2016
適用范圍:This document specifies test and measurement methods, test conditions, test setups, test procedures, failure criteria and test signals for the EMC evaluation of ICs with integrated LIN transceivers concerning disturbances on signal and voltage supply lines.
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