GB/T 14115-1993 半導體集成電路采樣/保持放大器測試方法的基本原理
作者：百檢網 時間：2021-07-30
中文標準名稱：半導體集成電路采樣/保持放大器測試方法的基本原理
英文標準名稱：General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits
標準類型：L56
發(fā)布日期：1993/1/21 12:00:00
實施日期：1993/8/1 12:00:00
中國標準分類號：L56
國際標準分類號：31.200
適用范圍： 本標準規(guī)定了半導體集成電路采樣/保持放大器（以下簡稱器件）電參數(shù)測試方法的基本原理。 本標準適用于半導體集成電路采樣/保持放大器的電參數(shù)測試。
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